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電子IT行業(yè)

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加速壽命試驗箱

發(fā)布日期:2020/11/5 14:34:50  點擊次數(shù):7561
加速壽命試驗箱廣泛應用于集成電路/微電子/IC等領域,其試驗目的是提高環(huán)境應力,如溫度與工作應力施加給產(chǎn)品的電壓/負荷等,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析被測試樣品何時出現(xiàn)的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障。分布函數(shù)呈現(xiàn)什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

產(chǎn)品特點
智慧型飽和蒸汽溫度值,人力控制裝置與 飽和蒸汽壓力檢知
白金溫度傳感器(PT-100型)感知精確 溫度
圓形棋置式內箱結構設計,方便待測樣品 取置與蒸汽沖擊隔離裝置
專利自動壓力安全門閂鎖控制裝置
全自動真空清潔程序,減低試品污染
另可擴充功能:記錄溫濕度/壓力

性能技術指標

型號

TY-HAST-40

測試箱尺寸(φ*D)mm

400 X 500

外箱尺寸(W*H*D)mm

709 X 950 X 1674

溫度控制范圍

100°C-135°C

溫度波動范圍

±0.5°C ( 85°C~135°C/100%RH )

濕度控制范圍

65%RH~100%RH

濕度波動范圍

±3%RH

最大壓力

0.019-0.208MPa

電源

220VAC ±10%, 50HZ, 20A

符合標準

GB; ISO; ASTM; ULCEN--


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